近期小編發(fā)現有從事稀土分析的老師就《GB/T 17417.1 - 2010稀土礦石化學分析方法 第1部分：稀土分量測定》和《GB/T 17417.2 - 2010稀土礦石化學分析方法 第2部分：鈧量測定》兩份標準中，提到的順序掃描型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP - OES），咨詢如何區(qū)分ICP - OES的類型。

隨著科技的進步，大量商品化的電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀呈現百花齊放的技術發(fā)展路線。今天和大家一起解讀《GB/T36244 - 2018電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀》，了解在國標體系中ICP - OES的分類。

《GB/T36244 - 2018電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀》該標準是2018年11月1日生效的，該標準旨在規(guī)定電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀的定義、組成和分類、要求、試驗方法等。而前文提到的兩個稀土礦石化學分析方法均在2011年2月1日實施，且旨在提供行業(yè)的分析方法。

因此GB/T36244 - 2018對于ICP - OES的分類更具性，且發(fā)布時間更新，更能真實的反應現在商品化ICP - OES的技術。那么我們來詳細解讀該標準。

順序掃描電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀定義

從色散元件（如棱鏡、光柵等）的狀態(tài)，“順序掃描電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀"的定義是：通過旋轉色散元件得到譜線的儀器。

全譜直讀電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀定義

從檢測器的角度，“全譜直讀電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀"的定義是：通過CCD、CID、CMOS等陣列式檢測器一次性讀取光譜的儀器。

可以清晰地看到，兩種分類是根據ICP - OES不同的部件進行的。

耶拿超高分辨率Plasma Quant 9100Elite的光學系統由棱鏡 + 中階梯光柵構成兩級色散，在分析過程中，中階梯光柵發(fā)生轉動，符合“順序掃描電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀"的定義；同時儀器配置高靈敏度的CCD陣列檢測器，快速獲取樣品譜圖，符合“全譜直讀電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀"的定義。

因此Plasma Quant 9100Elite符合《GB/T 17417.1 - 2010稀土礦石化學分析方法 第1部分：稀土分量測定》和《GB/T 17417.2 - 2010稀土礦石化學分析方法 第2部分：鈧量測定》的要求。

此時客戶又提出擔心，分析過程中光柵轉動是否會影響儀器的重復性？國標GB/T36244 - 2018中要求儀器重復性≤1.5%、穩(wěn)定性≤2.0%（間隔15分鐘，重復9次測量）。Plasma Quant 9100Elite這兩項的性能分別為≤0.3%、≤1.0%（7小時），位于行業(yè)水平，遠遠優(yōu)于國標要求。

作為新一代技術的突出代表，Plasma Quant 9100Elite將兩種科技有機結合，平衡了光學分辨率與分析速度，提供的光學分辨率3pm@200nm。此外儀器還具有極優(yōu)異的穩(wěn)定性。在稀土分析中實現“又快又準又穩(wěn)"的效果。

分辨率舉例：

重復性 (1ppm)：≤0.3%

穩(wěn)定性(7Hr)：≤1%