技術(shù)參數(shù)：

性能特點：

Sigma 360是一款直觀的成像和分析FE-SEM，是分析測試平臺的理想之選。

直觀成像工作流為您指引方向從設(shè)置到獲取基于人工智能的結(jié)果，每一步都清晰明了即使您是新手用戶，也能輕松獲得專業(yè)結(jié)果。Sigma系列可迅速獲取圖像，易于學(xué)習(xí)和使用的工作流程可節(jié)省培訓(xùn)時間，簡化從導(dǎo)航到后期處理的每個步驟，讓您如虎添翼。蔡司SmartSEM Touch中的軟件自動化可助您完成導(dǎo)航、參數(shù)設(shè)置和圖像采集等步驟。接下來，ZEN core便可大顯身手:它配備針對具體任務(wù)的工具包，適用于后期處理。我們十分推薦基于機器學(xué)習(xí)的人工智能工具包，它可助您進(jìn)行圖像分割，將多模式實驗與ConnectToolkit相結(jié)合，此外，Materials應(yīng)用程序還能分析微觀結(jié)構(gòu)、晶粒尺寸或涂層厚度。

• 從設(shè)置到獲取基于人工智能的結(jié)果，均提供專業(yè)向?qū)В瑸槟ｑ{護(hù)航，助您探索直觀的成像工作流。

• 可在1 kV和更低電壓下分辨差異，實現(xiàn)更高的分辨率和優(yōu)化的襯度。

• 可在ji端條件下執(zhí)行可變壓力成像，獲得出色的非導(dǎo)體成像結(jié)果。

Sigma 560采用先進(jìn)的EDS幾何學(xué)設(shè)計，可提供高通量分析，實現(xiàn)自動原位實驗。

對實體樣品進(jìn)行高效分析EDS:通用、高速，助您深入研究Siqma 560的先進(jìn)EDS幾何學(xué)設(shè)計可提高分析效率。兩個180°徑向相對的EDS端口確保了即使在低電壓小束流條件下，也能實現(xiàn)高通量無陰影元素分布成像。樣品倉的附加EBSD和WDS端口不局限于滿足EDS分析。不導(dǎo)電樣品也可以使用全新的NanovP lite模式進(jìn)行分析，并能獲得更強的信號和更高的襯度。全新的aBSD4探測器可輕松實現(xiàn)表面形貌復(fù)雜樣品的圖像采集

• 高通量分析，原位實驗自動化

• 對實體樣品進(jìn)行高效分析：基于SEM的高速和全fang位分析。

• 實現(xiàn)原位實驗自動化：無人值守測試的全集成實驗室。

• 可在低于1 kV的條件下完成要求嚴(yán)苛的樣品成像：采集完整的樣品信息。

應(yīng)用范圍：

• 材料科學(xué)

探索聚合物、纖維、二硫化鉬等材料樣品的圖像。

• 生命科學(xué)

了解更多有關(guān)原生動物或真菌的微觀和納米結(jié)構(gòu)信息，獲取切面樣品或薄片上的超微結(jié)構(gòu)。

• 地球科學(xué)與自然資源

探索巖石、礦石和金屬。

• 工業(yè)應(yīng)用

了解如何對金屬、合金和粉末進(jìn)行研究。